Информация, оборудование, промышленность

+7 911 749-5-449

info@oborudka.ru

Микроскопические методы исследований в металлографии

 

Для того, чтобы правильно определить наиболее подходящий тип микроскопа для исследований, необходимо иметь максимально полную информацию об объектах, подлежащих наблюдению. В настоящее время в металлографии применяется несколько основных методов (или методов контрастирования) изучения образцов, которые стоит рассмотреть более подробно.

Большая часть современных металлографических исследований производится с использованием метода светлого поля в отраженном световом потоке. При этом имеется возможность наиболее полного изучения непрозрачных образцов, наподобие минералов, руд или шлифов металлов. Исследуемый объект освещается отраженным от специального, только частично прозрачного, зеркала и затем прошедшим через объектив световым потоком, который после этого опять поочередно проходит через объектив и теперь уж прозрачную сторону зеркала.  Поскольку падающие на образец световые лучи отражаются с разной интенсивностью, то наблюдатель получит реальную картину, без существенных искажений. В разных микроскопах их наблюдательная часть может находиться как над образцом, так и под ним. Первые носят название «прямые» микроскопы, например, Альтами МЕТ1 и Альтами Мет 2. Последние относятся к так называемому инвертированному типу. В качестве примера можно привести модели Альтами МЕТ 3 или Альтами МЕТ 4.

Кроме метода светлого поля в металлографии применяются и другие способы исследования, для которых необходимо дополнительное оборудование. Сюда входят в первую очередь различные насадки – диафрагмы, поляризаторы, конденсоры и т.п. С их помощью исследователь может составить нужную ему оптическую схему светового пути для более эффективного изучения объекта в каждом конкретном случае.

Существуют и специальные металлографические микроскопы, как Альтами МЕТ 5, с помощью которых можно изучать интересующие образцы как методом светлого, так и темного поля. Последняя технология применяется для исследований структуры образцов металлов и сплавов. В этом случае освещение исследуемого объекта происходит с помощью специальной системы, состоящей из кольцевого зеркала и расположенного в объективе кругового эпизеркала. Это дает возможность световому потоку обойти оптическую часть микроскопа. При наблюдениях по такому методу обращают внимание на фон образца. Если в нем присутствуют светлые пятна, это говорит о дефектах структуры материала.